一、工作原理
1. 黑体辐射源发射
仪器内部集成一个温度恒定在 100°C 的半球形黑体，向样品表面
仪器通过内置算法，结合预先校准的高发射率标准片（ε≈0.960）与低发射率标准片（ε≈0.012）的参考值，将反射信号直接转换为发射率数值（0.000–1.000）。
4. 快速无损测量
整个过程仅需数秒，无需破坏样品或复杂温控环境，适用于平面、曲面甚至粗糙表面。
二、重要技术指标
指 标 | 说 明 |
辐射体温度 | 恒定 100°C，确保辐射信号稳定且符合常温应用场景。 |
光谱范围 | 2.5–40 μm，覆盖绝大多数材料在红外波段的特征辐射。 |
测量不确定度 | 低发射率材料：±0.005；高发射率材料：±0.01。 |
校准标准物 | 高发射率黑片（ε≈0.960）、低发射率抛光铝片（ε≈0.012），随仪器出厂校准。 |
测量时间 | 单次测量约 2–5 秒，支持连续快速检测。 |
适用样品 | 金属、涂层、玻璃、陶瓷、复合材料、纺织品等，可测最小样品尺寸需覆盖传感器区域。 |
输出接口 | RS232 串口，支持数据传输与记录。 |
电源要求 | 220–240VAC / 50–60Hz，整机功率约 130W。 |
重量与便携性 | 仪器重 2kg，含包装约 8kg，便于实验室与现场使用。 |
三、关键注意事项
² 温度一致性：样品与标准物需在同一环境温度下平衡，避免温差影响精度。
² 避免光干扰：测量透明或半透明材料时，需遮挡背面光线，防止直射传感器。
² 表面适应性：粗糙表面（Ra < 2.5 μm）或曲面可直接测量，但极薄或隔热材料可能因温升导致结果漂移，需快速操作。
总 结：
热发射率仪通过黑体辐射反射法实现了发射率的快速、无损测量，其核心优势在于高精度、易操作、广泛适用。关键指标如辐射温度、光谱范围、不确定度及校准标准物共同保证了测量的可靠性与重复性，使其成为材料研究、工业质检与节能评估中的重要工具。
